基于双测试法的高精度智能爆速仪设计及应用

• 作者: 冯进宝 武锦辉 王高 靳孝峰
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 关键词: 爆速 高精度 FPGA 触摸液晶屏
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 理论与方法|Theory & Method
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TN2
• 语种: 中文
• DOI: 10.19652/j.cnki.femt.2002196

摘要

为解决传统爆速仪测试精度低、测试方式单一、操作复杂等一系列问题,设计了一种基于双测试法的高精度智能爆速仪,该仪器可在电探测试与光纤测试两种方法间根据环境切换,同时该仪器还配有触摸液晶的人性化设计,可在界面上设置触发参数、显示结果、保存结果等.仪器包括3大模块,信号触发及采集模块;基于FPGA的计数与STM32的通信控制模块;以触摸液晶屏为核心的人机互动模块.此外仪器采用高灵敏防漂移的200 MHz晶振,利用FPGA能同时并行触发计数且互不干扰的特点对触发信号进行计数,使得系统精度可达到0.965％,仪器用途更加广泛.