基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量

• 作者: 何星 杜星湖 杨平 王帅 薛颖 许冰
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 测量 光腔衰荡技术 高反射率测量 耦合光腔衰荡技术 基横模
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 测量与计量
• 页码范围: 214-218
• 页数: 5页
• 分类号: O433.1|TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL202047.0604006

摘要

为提升光腔衰荡高反射率测量技术的精度,提出了一种基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法.该方法在耦合光腔衰荡系统中引入衰荡腔腔内模式监测模块,以腔内运行模式为判据寻找初始腔和测试腔耦合效率一致的状态,从而实现更高的测量精度.实验结果表明:在确保腔内模式处于基横模状态时,初始腔和测试腔腔内的等效损耗降低值几乎一致;对于同一高反射率待测样片,该技术对比传统方法可实现10.0％～27.1％测量精度的提升.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何星	中国科学院光电技术研究所	7	21	3.0	4.0
2	许冰	中国科学院光电技术研究所	48	460	10.0	20.0
3	杨平	中国科学院光电技术研究所	41	409	9.0	20.0
4	薛颖	中国科学院光电技术研究所	4	330	2.0	4.0
5	王帅	中国科学院光电技术研究所	133	716	13.0	21.0
6	杜星湖	中国科学院光电技术研究所	1	0	0.0	0.0