双应力恒加寿命试验下相依竞争失效模型的统计分析

• 作者: 师义民 王燕
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 数学
• 关键词: 双应力恒加寿命试验 相依竞争失效模型 M arshall-Olkin二维Gompertz分布 极大似然估计 Bootstrap方法
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 2644-2653
• 页数: 10页
• 分类号: O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2020.11.29

摘要

针对传统加速寿命试验仅考虑单一应力且假定产品各失效机理之间独立的问题,首先结合自适应逐步Ⅱ型混合截尾(adaptive type-Ⅱ progressively hybrid censored scheme,AT-Ⅱ PHCS)寿命试验,建立AT-ⅡPHCS双应力恒加寿命试验.其次,利用Marshall-Olkin二维Gompertz (Marsha11-Olkin bivariate Gompertz,MOBG)分布构建产品失效机理间相依关系.然后,基于AT-Ⅱ PHCS双应力加速寿命试验下相依竞争失效数据,利用极大似然理论,计算了参数的极大似然估计(maximum likelihood estimation,MLE),采用渐近似然理论和Bootstrap抽样方法构建参数的置信区间(confidence interval,CI).最后,结合一个实例对构建的相依竞争失效模型进行了算例验证,结果表明其具有很好的统计推断性能.