条纹投影法中抗噪声干扰的相移编码去包裹方法

• 作者: 刘达 雷振坤 姜昊 白瑞祥
• 来源期刊: 光学学报
• 关键词: 测量 噪声分析 相移编码 去包裹 条纹投影法 相位分析
• 年，卷（期）: 2020,（23）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计量|Instrumentation,Measurement and Metrology
• 页码范围: 92-101
• 页数: 10页
• 分类号: O439|O185
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS202040.2312002

摘要

相位去包裹问题广泛存在于条纹投影形貌测量中.提出了一种相移编码去包裹方法,该方法在求解相位时使用多步相移法,并在额外的一幅编码图像中,将标记条纹级数的编码嵌入到相移量中.解码时,通过分析各像素点处不同相移的光强信息序列,可以求解该点处的编码相移量,从而获得绝对相位.该方法只需要少量图像,且可以逐点去包裹,适用于不连续物体的形貌测量,但是容易受到投影仪和相机的噪声影响.通过增加互补的编码条纹图像,提出了一种改进的相移编码去包裹方法,在实现不连续物体形貌测量的同时,显著增强了噪声鲁棒性.经过仿真分析和实验,验证了所提的相移编码去包裹方法的有效性.