JTAG测试技术在模块级测试中的应用

• 作者: 王滨
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 模块级 JTAG边界扫描技术 测试诊断
• 年，卷（期）: 2020,（9）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 112-113,63
• 页数: 3页
• 字数: 1794字
• 语种: 中文

摘要

目前,随着板级器件密度的不断增大,尤其是表贴器件、BGA器件的大量使用,传统的测试方法,如使用万用表、示波器等己不能够覆盖足够的测试面积,这为模块测试带来了挑战.而随着支持IEEE1149.1标准的器件在模块中广泛的应用,很好的解决了这一问题.文章从JTAG边界扫描技术的原理出发,探讨如何将该技术应用到模块级测试中,为模块测试诊断带来便利.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王滨	中国航工业集团公司西安航空计算技术研究所	3	0	0.0	0.0