高精度保偏光纤拍长测量装置

• 作者: 赵耀 高业胜 韩正英
• 来源期刊: 光电技术应用
• 关键词: 保偏光纤 白光干涉 拍长 稳频干涉
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 光电器件与材料|Opto-electronic Device and Material
• 页码范围: 30-34
• 页数: 5页
• 分类号: TN253
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2021.03.008

摘要

拍长是表征保偏光纤产品性能的重要指标,近年来随着保偏光纤在光纤通信和光纤传感等领域的广泛应用,对拍长的高精度测量十分重要.基于白光干涉技术研制了保偏光纤拍长测量装置,通过测量保偏光纤上两个应力点之间的几何长度和对应耦合点之间的光学长度来计算拍长.几何长度采用激光干涉仪进行精确测量,光学长度是通过采用Hilbert变换和多项式拟合提取白光干涉包络信号,精确定位耦合点的峰值位置,使用稳频激光干涉技术进行测量.实验测量结果和不确定度分析表明,保偏光纤拍长测量装置的测量重复性优于4 μm,测量不确定度为20 μm(k=2).