集成天线的多通道瓦片式T/R组件测试

• 作者: 杜宝晨 陈文俊 张英浩 戚珑赢
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 瓦片式T/R组件 辐射对比法 近场测试 T/R组件测试
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 80-84,95
• 页数: 6页
• 分类号: TN957.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA2019400

摘要

雷达T/R组件的集成度越来越高,已出现了将天线也集成在组件上的多通道瓦片式收发T/R组件.由于天线的集成,传统的传导测试方法无法对这种新结构T/R组件的电路性能进行直接测量.针对该问题,提出一种辐射对比测试方法,采用辐射法先对T/R组件天线单元进行测试,然后对集成天线的T/R组件进行测试,最后将天线对T/R组件电路性能的影响扣除,得到T/R组件电路的各项性能参数.在分析测试原理的基础上,对一种集成天线的多通道X波段的瓦片式T/R组件发射峰值功率、通道间相位一致性和接收增益等指标进行了试验测试,测试结果与电路直接测试对比,幅度误差<0.69 dB,相位误差<10.5°,满足工程应用需求.