X波段T/R组件可靠性增长方法研究

• 作者: 戴跃飞 王光池 郑林华 陆培永
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: T/R组件 雷达 可靠性强化试验
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 10-13
• 分类号: TN956|TB24
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2010.06.003

摘要

介绍了一种通过可靠性强化试验(RET)来实现X波段T/R组件可靠性增长的方法.该方法主要包括3个过程,首先通过可靠性强化试验来暴露TR组件的潜在缺陷和薄弱环节:然后根据发现的问题分析故障原因,在此基础上改进设计和工艺;最后再对改进后的T/R组件进行RET,通过对比改进前后的试验结果来验证改进措施的有效性,从而实现了组件的可靠性增长.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴跃飞		4	17	2.0	4.0
2	郑林华		2	46	1.0	2.0
3	陆培永		6	10	2.0	3.0
4	王光池		1	1	1.0	1.0