可靠性指标增长验证统计方案设计方法

• 作者: 康锐 王文雨 魏川
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 单调约束模型 可靠性验证 Bogey试验
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TB114
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2013.06.007

摘要

在验收试验之前,在产品的研制过程中往往已有不少对产品的其他信息,比如产品各个阶段的试验信息;在产品的研制过程中,可靠性通常是增长的,因此这类数据符合可靠性增长指标要求.在设计可靠性指标验证方案时,充分地考虑了可靠性增长的信息,基于单调约束模型和Bogey试验设计方法,通过蒙特卡洛算法,给出一种可靠性增长验证统计方案的设计方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康锐	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	141	1889	25.0	38.0
2	魏川	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	2	6	2.0	2.0
3	王文雨	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	1	2	1.0	1.0