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电子产品可靠性与环境试验期刊
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基于加速环境的可靠性指标验证试验
基于加速环境的可靠性指标验证试验
作者:
张慧
王剑
翁雷
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
加速退化试验
失效机理
激活能
指标验证
摘要:
首先进行了电子产品失效模型的理论研究,并利用加速退化试验技术而研究了某通信产品失效机理一致的应力范围,通过对试验数据进行的统计分析.计算出失效机理一致情况下的激活能.在可靠性指标验证的试验研究中,将试验样品分成若干组分别进行恒温加速验证试验,并将试验结果与现场统计数据进行比较,最终确定产品的MTBF.
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文献信息
篇名
基于加速环境的可靠性指标验证试验
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
加速退化试验
失效机理
激活能
指标验证
年,卷(期)
2010,(4)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
6-10
页数
分类号
TB24
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2010.04.002
五维指标
作者信息
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翁雷
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张慧
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加速退化试验
失效机理
激活能
指标验证
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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电子产品可靠性与环境试验2010年第5期
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