热电离质谱全蒸发技术在钚同位素丰度测量中的应用

• 作者: 应浙聪 熊超杰 张丽华 李辉波 郝小娟
• 来源期刊: 质谱学报
• 关键词: 热电离质谱(TIMS) 全蒸发技术 钚 同位素比值
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告|Research Reports
• 页码范围: 305-313
• 页数: 9页
• 分类号: O657.63
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/zpxb.2020.0053

摘要

对影响热电离质谱全蒸发测量的主要因素进行研究,包括点样量、同质异位素的干扰等,并将全蒸发技术与传统测量技术测量IRMM-086的结果进行对比.结果 表明,全蒸发技术可在更少的点样量下获得比传统测量法更佳的测量精度,当同位素比值大于10-4时,结果与标准值偏差小于2σ.在50 ngIRMM-086点样量下,全蒸发测量的240 pu/239Pu、241pu/239pu、242pu/239pu相对标准偏差分别为0.006 8％、0.50％和0.83％.对于钚同位素比值分析,全蒸发测量技术可直接获得高精度、高准确度的测量结果.