电缆形变相位变化对多通道产品测试影响分析

• 作者: 王伟 房澎涛 董玉彬
• 来源期刊: 光纤与电缆及其应用技术
• 关键词: 射频电缆 多通道产品 弯曲 相位变化
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术|Test Technique
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: TM248
• 语种: 中文
• DOI: 10.19467/j.cnki.1006-1908.2021.03.004

摘要

由于多通道产品的测试要求,射频电缆可能会存在不同形变状态的弯曲,从而导致电缆自身的相位发生不一致的变化,最终引入产品的系统测试结果.为了提升测试系统的相位幅度一致性,对多路电缆形变导致的相位变化情况展开研究分析.通过验证多根电缆在弯曲情况下的相位变化情况,归纳整理了典型电缆发生弯曲后相位变化规律,进而指导相关人员提前判断多通道产品精确测试过程中因所使用电缆形变所带来的相位变化影响.