气压参数对瓷和玻璃绝缘子直流污闪特性影响研究

• 作者: 陈吉 蒋兴良 陈成瑞 李新梁
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: 直流 低气压 污秽闪络 瓷和玻璃绝缘子 影响指数
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 187-193
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2021.01.028

摘要

污秽绝缘子表面在低气压下容易出现飘弧现象,并在闪络过程中形成空气间隙电弧.绝缘子表面电弧和空气间隙电弧的U-I特性差异较大,而现有模型大多只是简单的用剩余污层表面电导率来计算表面电弧,无法准确低气压下的直流闪络特性.基于Obenaus模型,从理论上表面电弧和空气间隙电弧的差异,并利用这种差异性来作为判断直流污闪标准不同比例空气间隙电弧下的污秽度和气压指数的影响能力.结果表明:空气间隙比例不变时,污秽和气压的影响指数主要受电弧特性的影响且仅是常数,与绝缘子形状和电弧极性没有直接关系;随着空气间隙电弧比例的增加,污染影响指数会降低,但气压影响指数会逐渐增大;沿着爬电距离出现的闪络电压梯度与绝缘子的污秽程度、实际放电路径长度以及空气间隙比例和电弧极性都有关系.结论可为研究低气压下的绝缘子直流污闪特性作为参考.