多模式全聚焦法成像解析

• 作者: 李衍
• 来源期刊: 无损探伤
• 关键词: 全聚焦法 多模式成像 伪显示 模式融合 滤除
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 1-6
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

全聚焦法(TFM)是超声阵列数据的高级后处理成像算法,对缺陷检测和表征颇有潜力.可在换能器与聚焦点之间使用一系列成像路径.适于缺陷重建的模式有多种,这取决于给定试件中缺陷的几何形状和特征.另外,还可观察到非真实显示,易造成误判错读.这些成像伪显示归因于多种声传播模式不同作用的共存,还有声波与被检缺陷或与试件几何形状的相互作用.本文介绍多模式全聚焦成像中几何伪显示和缺陷伪显示的滤除方法和解析示例,凸现了 TF M成像解析技术的最新进展.