程序块谱和随机谱下的可靠寿命消耗评估方法

• 作者: 傅惠民 付越帅 李子昂
• 来源期刊: 机电产品开发与创新
• 关键词: 程序块谱 随机谱 可靠寿命消耗 剩余可靠寿命 单机监控 寿命管理
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 开发与创新|Development and Innovation
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-6673.2021.03.001

摘要

针对加速寿命试验中常见的程序块谱和随机谱加载的情况,建立一种机电产品可靠寿命消耗评估方法.首先根据等损伤原理,建立了程序块谱和随机谱与标准载荷加载下的可靠寿命单侧置信下限之间的关系,分别对单应力和双应力、三应力等多应力情况的程序块谱和随机谱加载进行了详细讨论,然后给出了相应的可靠寿命消耗和剩余可靠寿命百分比及其置信限的计算方法.该方法可以对机电产品进行健康监测,并根据实际使用情况科学合理安排该机电产品的后续任务以及维修和报废,实现单机监控.