高同型半胱氨酸血症小鼠额叶皮质神经元损伤及其Hes1/Notch1表达的初步研究

• 作者: 龙乾 许贤瑞 燕茹 刘峰 张特弟 张竞文
• 来源期刊: 宁夏医学杂志
• 关键词: 高同型半胱氨酸血症 神经元 凋亡
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 102-104
• 页数: 3页
• 分类号: R740.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.13621/j.1001-5949.2021.02.0102

摘要

目的 探讨高同型半胱氨酸血症神经细胞损伤及其可能机制.方法 将ApoE-/-小鼠分为高同型半胱氨酸血症实验组(HM)和ApoE-/-小鼠对照组(ApoE-/-),每组12只;ApoE野生型c57/6J小鼠为空白对照组(Con).HM组小鼠采用高蛋氨酸饮食饲喂造成高同型半胱氨酸血症,Con组和ApoE-/-组小鼠普通饮食饲喂.通过组织病理学、组织化学、TUNEL染色观察小鼠额叶皮质神经元变化,qPCR检测脑组织Hes1、Notch1表达.结果 HM组小鼠血浆总同型半胱氨酸为(18.87±6.79)μmoL/L,明显高于Con组和ApoE-/-组(P＜0.05);HE染色可见,HM组固缩神经元有所增加.经光密度测定可见,3组Nissl体平均光密度值差异无统计学意义(P＞0.05).TUNEL染色可见,Con组和ApoE-/-组小鼠均偶见TUNEL阳性神经元,HM组中TUNEL阳性神经元比例明显增加(P＜0.05);通过qPCR可见,HM组Hes1和Notch1基因mRNA表达明显高于Con组和ApoE-/-组(P＜0.05).结论 高同型半胱氨酸血症能够诱导额叶皮质神经元凋亡,可能涉及Hes1和Notch1表达的变化.