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摘要:
为了解决传统射频开关的芯片面积大、性价比低且集成难度高的问题,研究并设计了体区自适应偏置技术方案,并基于该技术采用180 nm规格SOI(绝缘体上硅)CMOS芯片设计了一种承受功率大、插入损耗低的5G基站射频开关.在基于新技术的设计方案中,取消了开关管体区的偏置电阻.通过并联电容补偿的方式提高输入功率上限,实验结果表明,射频开关的承受功率平均值达20 W,插入损耗可降至0.43 dB,对于5G通信基站的信号增强和能耗降损具有十分重要的作用.
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文献信息
篇名 基于体区自适应偏置技术的5G基站射频开关研制
来源期刊 微型电脑应用 学科
关键词 射频开关 5G基站 体区自适应偏置技术 绝缘体上硅
年,卷(期) 2021,(5) 所属期刊栏目 研究与设计|RESEARCH AND DESIGN
研究方向 页码范围 90-92
页数 3页 分类号 TP311
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-757X.2021.05.026
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研究主题发展历程
节点文献
射频开关
5G基站
体区自适应偏置技术
绝缘体上硅
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微型电脑应用
月刊
1007-757X
31-1634/TP
16开
上海市华山路1954号上海交通大学铸锻楼314室
4-506
1984
chi
出版文献量(篇)
6963
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20
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