某机载VPX模块故障分析、改进设计及验证

• 作者: 尤浩 李鹏程
• 来源期刊: 舰船电子对抗
• 关键词: 故障分析 金相切片 应变测试
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 工程应用|ENGINEERING APPLICATION
• 页码范围: 111-116
• 页数: 6页
• 分类号: TM930
• 语种: 中文
• DOI: 10.16426/j.cnki.jcdzdk.2021.04.026

摘要

电子设备在运输、使用过程中受到环境应力的作用而发生故障时有发生.采用金相切片检测技术和应变测试技术对某机载VPX模块的故障进行分析,完成故障定位与机理分析,并对改进后的设计进行验证,为同类模块设计提供参考.