基于光学干涉条纹拼接方法的待测距离研究

• 作者: 邹峰 张官扬 郑天雄 刘自胜
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 关键词: 光学干涉 测距实验装置 干涉条纹 条纹拼接 待测距离
• 年，卷（期）: 2021,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与开发|Research and Development
• 页码范围: 122-126
• 页数: 5页
• 分类号: TH711
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1841.2021.05.025

摘要

提出了一种基于光学干涉条纹拼接方法,来对待测距离进行测量研究.理论过程中,基于光学干涉原理,建立了单频光测距离理论模型.实验过程中,搭建了基于光学干涉方法的测距实验装置.在待测距离实验装置搭建完成后,进行了光路调节来产生光学干涉,得到干涉条纹.实验数据处理过程中,基于光学干涉条纹时域信号进行了条纹拼接,得到了拼接干涉条纹.最后对拼接干涉条纹进行了频谱分析,结果显示,待测距离为21.81 m,测距统计误差为0.08 m.