低噪声高分辨IC测试系统设计

• 作者: 齐学红 汪海波
• 来源期刊: 传感器世界
• 学科: 工学
• 关键词: IC测试 低噪声 高分辨率 误差校正
• 年，卷（期）: 2021,（12）
• 所属期刊栏目: 信号与系统|Signal Process & System
• 页码范围: 27-32
• 页数: 6页
• 分类号: TN702
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-883X.2021.12.006

摘要

集成电路(IC)测试要求高速、高分辨率、高信噪比的信号采集系统,设计一套合适的采集系统具有极其重要的意义.论文分析了IC测试系统的组成原理,设计了低噪声信号调理电路并分析噪声系数;设计了可调相位延迟的时钟采样电路,有效实现低抖动的延迟;分析了误差对系统的影响,建立时间交替采样模型,有效校正了误差.测试表明,系统可有效实现高速高分辨的IC采集系统,达到16位分辨率、1 G采样率,波形误差达到63 dB,有效位数达到近12位,达到设计的要求.