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摘要:
提出一种深紫外波长条件下熔石英光学元件应力双折射的评估方法.该方法利用有限元仿真技术获取熔石英光学元件内若干截面的应力数据,结合三维插值拟合法、琼斯矩阵和路径积分方法计算光学元件引入的总相位延迟量和总方位角.在忽略样品平行度误差的情况下,所提方法对熔石英薄板样品在632.8 nm波长下相位延迟量和方位角的数值计算结果和实验结果基本一致,验证了所提方法的准确性和有效性.在此基础上,推导出相同载荷条件下,熔石英薄板在248 nm和193 nm波长下的应力双折射变化量,所得计算结果可用于分析光学元件内部应力双折射对光学系统偏振性能的影响.
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文献信息
篇名 基于有限元分析方法的深紫外波段熔石英应力双折射分析
来源期刊 光学学报 学科
关键词 物理光学 光刻机 应力双折射 熔石英 有限元 相位延迟量 方位角
年,卷(期) 2021,(12) 所属期刊栏目 物理光学|Physical Optics
研究方向 页码范围 212-218
页数 7页 分类号 O302|TB125
字数 语种 中文
DOI 10.3788/AOS202141.1226001
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31-1252/O4
大16开
上海市嘉定区清河路390号(上海800-211信箱)
4-293
1981
chi
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