嵌入式测试在3C电子设备中的设计与实现

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作者：

刘建中

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嵌入式测试

CAN

分布-集中式架构

测试控制单元

XC7Z020-2CLG400I

摘要：

随着现代电子技术的快速发展和应用，3C电子设备的性能大大提高，但同时给电子设备带来新的测试和故障诊断问题。本文的设计方法已实现工程应用，对提升3C电子设备的自检测及故障诊断能力具有一定的现实意义

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篇名	嵌入式测试在3C电子设备中的设计与实现
来源期刊	商品与质量	学科
关键词	嵌入式测试 CAN 分布-集中式架构测试控制单元 XC7Z020-2CLG400I
年，卷（期）	2021,（37）	所属期刊栏目	科技创新
研究方向		页码范围	155
页数	1页	分类号
字数		语种	中文
DOI