X荧光光谱法测定铝硅镀液中硅、铁、镁、锰、铜、锌的含量

• 作者: 周文
• 来源期刊: 中国金属通报
• 学科: 农学
• 关键词: X荧光光谱法 铝硅镀液 ICP法
• 年，卷（期）: 2021,（11）
• 所属期刊栏目: 科学技术
• 页码范围: 116-117
• 页数: 2页
• 分类号: S794.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-1667.2021.11.056

摘要

建立了用X荧光光谱法测定铝硅镀液中硅、铁、镁、锰、铜、锌含量的分析方法.本文通过大量实验,采用基体匹配法校正基体对测定的影响,利用标准样品建立工作曲线,对多个样品进行分析,结果均表明:X荧光光谱法测定铝硅镀液中硅、铁、镁、锰、铜、锌含量,其精密度和准确度略差于ICP法,但分析时间和操作便捷性均优于ICP法,可以满足实际生产样品的分析.