硅橡胶电晕老化特性的微观机理研究

• 作者: 熊媛媛 李志伟 龚瑞
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 硅橡胶 电晕老化 绝缘性能 陷阱能级 闪络电压
• 年，卷（期）: 2022,（6）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 64-70
• 页数: 6页
• 分类号: TM215,TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2022.06.012

摘要

对硅橡胶进行电晕加速老化，测量不同老化时间下硅橡胶的绝缘特征参量，并通过特征参量分析深入研究了硅橡胶的老化机理。结果表明：电晕老化使得硅橡胶表面结构遭受严重的破坏，且在其表面形成了明显的孔洞和裂纹，并造成严重的粉化现象。电晕老化导致硅橡胶的分子长链断裂成小分子链，使得硅橡胶分子链柔顺度降低，形成各种缺陷并造成硅橡胶绝缘性能下降。电子和空穴陷阱能级中心随着电晕老化时间的增加呈现先缓慢下降后快速下降的变化趋势。且电晕老化导致深陷阱逐渐发展成浅陷阱，对电子的束缚作用减弱，最终造成硅橡胶沿面闪络的发生。