绝缘交界面气隙缺陷及其受潮状态对T型电缆接头电热场的影响研究

• 作者: 刘刚 徐庆 石聪聪 张圆明 黄华峰
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 环网柜 T型电缆终端 绝缘交界面气隙 电热耦合 有限元
• 年，卷（期）: 2022,（9）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 107-115
• 页数: 8页
• 分类号: TM247
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2022.09.018

摘要

本文建立了实际10kVT型电缆终端接头多物理场有限元模型，研究了T型电缆终端接头在绝缘交界面存在气隙缺陷下的电场及温度场分布特性，分析了缺陷条件下的电场、温度场幅值变化规律，提出可有效反映T型电缆终端接头气隙缺陷的特征量及监测位置。结果表明：T型电缆终端接头不同程度气隙缺陷对其交界面处的电场分布特性有一定的影响，但是其他典型位置处的电场、温度场幅值变化不明显；在气隙受潮的情况下气隙缺陷处会达到临界击穿，此时法兰底座、箱体上表面的电场幅值增量可达20%，而且温升可达约15℃。在实际工程中，可通过监测法兰底座、箱体上表面的电场幅值增量以及温升，来反映T型电缆终端接头局部击穿放电的潜在临界隐患。