微米级异物对GIS设备绝缘状态影响研究

• 作者: 牛勃 孙尚鹏 魏莹 陈磊 马飞越 伍弘
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 微米级异物 局部放电 绝缘裕度 GIS 带电检测
• 年，卷（期）: 2022,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 93-100
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001⁃1609.hva.2022.03.013

摘要

断路器分合闸过程中不可避免产生微米级金属粉尘，对GIS设备内部绝缘状态具有重要影响。文中以真型363kVGIS为基础，搭建了可进行520kV工频耐压、1175kV雷电冲击耐压的试验平台，用以开展微米级异物下GIS设备绝缘状态影响研究。首先基于2000次机械操作开展微米异物分布特征研究，获取了触头不同磨损次数下的微米级异物变化趋势。其次在不同操作次数下采用脉冲电流法进行放电量检测，同时联合特高频、超声波局部放电检测法，分析不同检测方法对微米级异物放电检测灵敏度。最后采用人工预埋的方式开展微米级金属粉尘对GIS设备绝缘性能的影响，并采用雷电冲击试验方法进行绝缘裕度校核，获取了微米级异物对设备绝缘性能的影响。文中通过微米级异物在真型设备内不同数量不同位置的试验以及对应试验下的局放检测研究，可为设备运维过程中微米级异物对绝缘状态的影响提供技术支撑。