拓扑材料γ-PtBi2的变温晶体结构研究

• 作者: 张世车 刘威 杨萌 林宇 冯娅 石友国 Kenya Shimada 杨晓峰 Darren C Peets 何少龙
• 来源期刊: 核聚变与等离子体物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 拓扑 X射线衍射 晶体结构 角分辨光电子能谱
• 年，卷（期）: 2022,（z1）
• 所属期刊栏目: 核聚变工程|Nuclear Fusion Engineering
• 页码范围: 114-119
• 页数: 6页
• 分类号: O785+.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.16568/j.0254-6086.2022s1004

摘要

利用X射线衍射(XRD)、角分辨光电子能谱(ARPES)和能带计算的方法研究了不同温度下γ-PtBi2的晶体结构.利用单晶XRD确定了室温下晶体的结构为P31m.为了确定低温时样品的晶体结构,用ARPES测得了样品的电子结构并与计算结果进行了对比,结果显示样品的结构与P31m相吻合,这表明在低温时样品依然保持P31m结构.进一步的高温XRD研究表明,在高温时样品的晶体结构仍为P31m结构.