相频扫描阵列通道幅相测试方法研究

• 作者: 杨磊 于大群 毛建军
• 来源期刊: 微波学报
• 关键词: 相频扫描阵列 通道测试 频扫天线 阵列校准
• 年，卷（期）: 2022,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告|PAPERS AND REPORTS
• 页码范围: 80-85
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.14183/j.cnki.1005-6122.202202017

摘要

相频扫描阵列具有频扫低成本和相扫控制灵活等优点,被广泛用于军事和民事.该类阵列的增益、相位扫描面波束副瓣等受通道的幅度相位一致性影响较大,需要经过校准补偿以获得高性能波束.准确高效的通道幅相测试方法是进行校准的前提和基础.文中首先分析了组成相频扫描阵列的波导缝隙天线近场区域的辐射特性,得出在柱面波区域进行取样的可行性.在此基础上提出了扫描架逐行移动取样以及中场取样两类共五种测试方法,并给出了程差的幅相补偿方法.计算了各测试方法所引入的系统误差,分析了它们各自的适用场合.最后对比其中两种测试方法在某相频扫描阵列样机中的幅相测试结果,并给出了补偿校准后的波束测试结果,验证了文中所提出测试方法的准确性和有效性.