高压支柱瓷绝缘子断裂原因与缺陷检测技术分析

• 作者: 赵洲峰 罗宏建 鲁旷达 徐冬梅 杨斌
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷检测技术 断裂原因 高压支柱瓷绝缘子
• 年，卷（期）: 2022,（3）
• 所属期刊栏目: 创新应用|Application
• 页码范围: 128-129
• 页数: 2页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2022.03.051

摘要

阐述高压支柱瓷绝缘子断裂的原因及检测缺陷的技术,提高安装及调试程序的科学性,避免出现运行维护过程的质量问题,使其维持正常稳定的状态.