口盖粗晶原因分析

• 作者: 陈启芳 邓少平 戴木海 熊财梓 周武风 廖可 万慧 江西洪都航空工业集团有限责任公司
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 晶粒度 原材料 淬火 预拉形
• 年，卷（期）: 2023,（8）
• 所属期刊栏目: 智能·制造
• 页码范围: 54-56,59
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.15913/j.cnki.kjycx.2023.08.014

摘要

口盖零件是飞机上常用的一种零件，某飞机上较多口盖零件出现粗大晶粒现象，从口盖零件的原材料和制造工艺中找出了问题原因。试验结果表明，飞机口盖零件出现晶粒粗大的关键原因是在零件制造工艺的淬火前预拉形过程中使用了不合适的预拉形变形量，原材料中可有效改善晶粒度的Fe和Si元素质量分数也被控制在较低水平，最后提出了避免口盖零件出现晶粒粗大的措施。