CCD引张线仪关键技术指标校准方法研究

• 作者: 马娟娟 张鑫 戴兴谱
• 来源期刊: 科技与创新
• 学科: 工学
• 关键词: CCD引张线仪 示值误差 校准 影像测量仪
• 年，卷（期）: 2024,（12）
• 页码范围: 34-36
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.15913/j.cnki.kjycx.2024.12.008

摘要

根据大坝变形监测的工程需要，对应用最广泛的CCD（光电式）引张线校准方法进行研究。采用影像测量仪作为主要标准器，对示值误差和测量光不平行误差2项关键技术指标提出准确可行的校准方法，并进行不确定度分析，验证方法的可行性，为大坝的安全监测提供技术支撑。此方法也可适用于各类型引张线的校准。