LSI制造与测试1996年第3期出版文献-钛学术文献服务平台

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LSI制造与测试

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主办单位：

上海光学仪器研究所

ISSN：

CN：

31-1459/TN

出版周期：

双月刊

邮编：

200062

地址：

上海江西中路450号

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1. 电力调度自动化系统的防止静电危害环境设计

作者：孙振国

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 3-4

摘要：
2. 金属导电网络永久性抗静电地板的研制

作者：朱明晓蒋伟平

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 5-6

摘要：
3. YS系列永久性抗静电塑料贴面的研制与开发过程

作者：姜俊平

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 7-9

摘要：
4. 半导体制造工艺中的静电问题

作者：藤江明雄

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 10-14

摘要：随着半导体器件的微细化设计的进展，我们必须极深刻的地重新认识静电问题，因此。本文在过去半导体制造工艺中的静电问题基础上，结合国内外的文献资料，主要介绍静电问题的所在及其概况。
5. 半导体器件生产工艺中防静电措施

作者：井川芳郎

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 15-18

摘要：
6. 静电防护的新型材料导电塑料

作者：吴松才

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 19-22

摘要：
7. 绝缘电阻测量的影响因素

作者：罗宏昌

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 23-25

摘要：
8. 新一代功能复合导电塑料

作者：庄晓荣

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 26

摘要：
9. 发展科技的一大举措上海市新材料研究中心成立

作者：沈国雄

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 27-30

摘要：
10. 企业在市场竞争中扑击

作者：周刚

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 31-34

摘要：
11. 防静电报装发展概述

作者：曹惠椿裴振华

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 35

摘要：
12. 电子工业国内外防静电标准综述

作者：张宝铭

刊名： LSI制造与测试

发表期刊： 1996年3期

页码: 36-41

摘要：本文简要介绍阵同有关电子工业防静电标准制订情况，特点，提出了进一步加强电子工业防静电标准化工作的思路和工作重点。

LSI制造与测试基本信息

刊名	LSI制造与测试	主编
曾用名
主办单位	上海光学仪器研究所	主管单位
出版周期	双月刊	语种
ISSN		CN	31-1459/TN
邮编	200062	电子邮箱
电话	021-650226	网址
地址	上海江西中路450号

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