电子测试期刊
出版文献量(篇)
19588
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电子测试

Electronic Test

CSTPCD

影响因子 0.7250
主办单位:
北京自动测试技术研究所
ISSN:
1000-8519
CN:
11-3927/TN
出版周期:
半月刊
邮编:
100098
地址:
北京市100098-002信箱
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  • 作者: 叶健滨 曾宝莹
    刊名: 电子测试
    发表期刊: 2016年13期
    页码:  118-119
    摘要: 本文讨论了基于高分辨精度的24位∑-△ ADC(AD7760)的过采样应用设计,验证了针对白噪声下的微弱信号,采用过采样技术可以提高ADC的精度和信噪比。
  • 作者: 祁俊胜
    刊名: 电子测试
    发表期刊: 2016年13期
    页码:  141-142
    摘要: 现代软件项目的系统测试工作,比较复杂,存在一些问题,将项目管理的思想应用于系统测试的过程之中,可以处理好各种问题,从而保证项目软件的质量,能够更好更好的发布版本,抢占市场。

电子测试基本信息

刊名 电子测试 主编 陈晓筱
曾用名
主办单位 北京自动测试技术研究所  主管单位 北京市科学技术研究院
出版周期 半月刊 语种
chi
ISSN 1000-8519 CN 11-3927/TN
邮编 100098 电子邮箱 ed@test169.com dzcszzss@163.com
电话 010-59713435 010-56236918 网址 www.test169.com
地址 北京市100098-002信箱

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