电子测试期刊
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
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电子测试

Electronic Test

CSTPCD

影响因子 0.7250
主办单位:
北京自动测试技术研究所
ISSN:
1000-8519
CN:
11-3927/TN
出版周期:
半月刊
邮编:
100098
地址:
北京市100098-002信箱
出版文献量(篇)
19588
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  • 作者: 郭杰
    刊名: 电子测试
    发表期刊: 2016年15期
    页码:  80-81
    摘要: 随着嵌入式系统的发展,其在市场上的应用越来越广泛,关于嵌入式系统的软件能耗已经成为影响整个系统的关键因素。本文通过对嵌入式实时软件的能耗建模与分析,希望减少软件能耗,增强嵌入式系统的使用体验...
  • 作者: 于洪新
    刊名: 电子测试
    发表期刊: 2016年15期
    页码:  152-153
    摘要: 机械设计制造及其自动化是美国机械工程师在1984年所提出的一个机电一体化化名词,就是将计算机技术与机械设计制造相结合。机械设计制造及其自动化到今天为止一直是一门新兴学科,其中的内容还需要通过...
  • 作者: 佟明利
    刊名: 电子测试
    发表期刊: 2016年15期
    页码:  162-162,174
    摘要: 随着社会的进步,我国房屋建筑事业的不断发展,房屋建筑过程中易出现的裂缝问题也逐渐成为建筑中的焦点。毋庸置疑,墙体在房屋建筑中占有重要地位。本文以房屋建筑墙体为基础,对墙体出现裂缝的原因进行详...

电子测试基本信息

刊名 电子测试 主编 陈晓筱
曾用名
主办单位 北京自动测试技术研究所  主管单位 北京市科学技术研究院
出版周期 半月刊 语种
chi
ISSN 1000-8519 CN 11-3927/TN
邮编 100098 电子邮箱 ed@test169.com dzcszzss@163.com
电话 010-59713435 010-56236918 网址 www.test169.com
地址 北京市100098-002信箱

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