金属氧化物半导体晶体管及其制造方法

摘要:
一种金属氧化物半导体晶体管的制造方法,是先于一衬底上形成栅极结构,再于栅极结构侧壁形成偏移间隙壁。然后,进行第一离子注入工艺,以于栅极结构侧边的衬底内形成LDD,再于偏移间隙壁的侧壁形成另一间隙壁。接着,进行第二离子注入工艺,以于前述间隙壁侧边的衬底内形成源极与漏极,再于源极与漏极表面形成一硅化金属层。之后,于硅化金属层表面形成一氧化层,再将间隙壁去除。随后,于衬底上形成一层蚀刻中止层。由于硅化金属层表面有氧化层保护,所以不会受到去除间隙壁时所采用的溶剂损害。
基本信息
专利类型 发明
申请(专利)号 CN200510108839.8 申请日 2005-09-30
授权公布号 CN100461453C 授权公告日 2009-02-11
申请人 联华电子股份有限公司 
地址 中国台湾新竹科学工业园区
发明人 曹博昭 黄昌琪 陈铭聪 江怡颖 张毓蓝 李忠儒 吴至宁 廖宽仰 
分类号 H01L29/78(2006.01) H01L21/336(2006.01)  主分类号 H01L29/78(2006.01)
国省代码 中国台湾 页数 14
代理机构 北京市柳沈律师事务所
代理人 联华电子股份有限公司 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2009-02-11 授权 授权
2007-05-30 实质审查的生效
2007-04-04 公开 公开
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