一种高深宽比硅通孔铜互连线及其制备方法

摘要:
一种高深宽比硅通孔铜互连线:在从电沉积铜开始端至终止端直径为从细至粗的铜互连线。采用电沉积制备上述铜互连线的方法:其特征在于:电沉积铜从较细端到较粗端生长,阳极采用高纯的电解铜板,其面积大于或等于阴极的两倍;导通电流密度保持恒定;在转向电沉积过程中,并且正向电流和负向电流强度相等,正向电流导通时间是负向电流的5倍。本发明采用逐渐变细的硅通孔作为生长电沉积铜的通道,该硅通孔可以自动调节电沉积过程中局部有效电流密度的分布,并且有利于电沉积过程中阴极产生气泡从孔中的逸出,从而实现高深宽比、无孔洞缺陷的硅通孔铜互连线的制备。
基本信息
专利类型 发明
申请(专利)号 CN200910041532.9 申请日 2009-07-30
授权公布号 CN101661922B 授权公告日 2014-04-09
申请人 广州市香港科大霍英东研究院 
地址 广东省广州市南沙经济开发区南沙资讯科技园软件楼N301
发明人 谷长栋 徐辉 张统一 
分类号 H01L23/528(2006.01) H01L21/768(2006.01) C23C14/34(2006.01) C23C14/16(2006.01) C25D7/06(2006.01) C25D5/18(2006.01) C23F1/12(2006.01) C23C28/02(2006.01)  主分类号 H01L23/528(2006.01)
国省代码 广东 页数 9
代理机构 广州知友专利商标代理有限公司
代理人 广州市香港科大霍英东研究院 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2014.04.09 授权 授权
2010.04.28 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H01L 23/528申请日:20090730
2010.03.03 公开 公开
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