一种近场目标对称极化RCS测试方法

摘要:
本发明涉及目标电磁散射特性测量技术。所要解决的技术问题在于提供一种有效可行的近场目标对称极化RCS测试方法。本发明通过观测天线沿圆周轨迹转动扫描,改变其位置及姿态,组合模拟对称极化非均匀照射场,并依次进行多次目标散射测量并相干合成,实现了近场目标对称极化RCS的测量,弥补了近场目标极化电磁散射数据测量不全的不足。
基本信息
专利类型 发明
申请(专利)号 CN201010278550.1 申请日 2010-09-10
授权公布号 CN102401893B 授权公告日 2015-03-04
申请人 上海无线电设备研究所 
地址 上海市杨浦区黎平路203号
发明人 梁子长 陈奇平 张元 
分类号 G01S7/41(2006.01) G01S7/40(2006.01)  主分类号 G01S7/41(2006.01)
国省代码 上海 页数 8
代理机构 上海航天局专利中心
代理人 上海无线电设备研究所 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2015.03.04 授权 授权
2012.11.28 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01S 7/41申请日:20100910
2012.04.04 公开 公开
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