利用相对易腐蚀的金属制备另一种金属图形的剥离方法

摘要:
一种利用相对易腐蚀的金属制备另一种金属图形的剥离方法,包括以下步骤:1)在衬底上通过蒸发或溅射工艺生长一层易腐蚀金属;2)在易腐蚀金属的表面旋涂光刻胶,采用常规光刻工艺进行光刻,制作图形;3)采用ICP刻蚀技术刻蚀易腐蚀金属,在易腐蚀金属上形成沟槽,通过调整工艺参数来增大刻蚀沟槽的横向钻蚀;4)通过蒸发或溅射工艺,在残余光刻胶表面和沟槽中暴露的衬底上生长待剥离的金属,形成样片;5)将样片放入易腐蚀金属的腐蚀液中,将易腐蚀金属腐蚀掉,得到了衬底上的金属图形;6)用去离子水清洗,完成制备。本发明具有工艺简单、可重复性好、对光刻工艺要求低的优势,易于形成断口,易于剥离的优点。
基本信息
专利类型 发明
申请(专利)号 CN201410500353.8 申请日 2014-09-26
授权公布号 CN104377117A 授权公告日 2015-02-25
申请人 中国科学院半导体研究所 
地址 北京市海淀区清华东路甲35号
发明人 杨健 司朝伟 韩国威 宁瑾 赵永梅 梁秀琴 
分类号 H01L21/02(2006.01)  主分类号 H01L21/02(2006.01)
国省代码 北京 页数 7
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司
代理人 中国科学院半导体研究所 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2017.10.20 发明专利申请公布后的视为撤回 发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):H01L 21/02申请公布日:20150225
2015.03.25 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/02申请日:20140926
2015.02.25 公开 公开
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