一种基于图像熵的微波测试耦合杂波消除方法

摘要:
本发明公开的一种基于图像熵的微波测试耦合杂波消除方法,该方法包括:在非暗室条件下,获取待测目标的多个扫频及扫角散射信号;对获取的多个扫频及扫角散射信号分别进行初步去耦合处理;并对上述信号进行逆合成孔径成像处理获取对应的多个散射图像信息;最终以初始状态下待测目标的散射图像信息的图像熵最小化为目标函数,利用优化算法对待测目标的散射点强度进行寻优,获取最优参数,从而获取初始状态下待测目标图像熵最小化逆合成孔径像。本发明无需事先知晓电磁波传播途径,能够处理复杂结构、区分路径长度重叠的耦合信号和待测设备自身信号;并能够与其它杂波消除方法相结合。
基本信息
专利类型 发明
申请(专利)号 CN201510837627.7 申请日 2015-11-26
授权公布号 CN105510914A 授权公告日 2016-04-20
申请人 上海无线电设备研究所 
地址 上海市杨浦区黎平路203号
发明人 林云 高鹏程 梁子长 郭良帅 
分类号 G01S13/90(2006.01) G01S7/28(2006.01)  主分类号 G01S13/90(2006.01)
国省代码 上海 页数 13
代理机构 上海信好专利代理事务所(普通合伙)
代理人 上海无线电设备研究所 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2018.04.17 授权 授权
2016.05.18 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01S 13/90申请日:20151126
2016.04.20 公开 公开
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