页岩微米孔隙成像方法及装置

摘要:
本发明提供了一种页岩微米孔隙成像方法及装置,涉及勘探地球物理技术。其中方法包括:采用同步辐射平行X射线束对页岩进行CT成像,得到页岩的成像数据;根据页岩的成像数据建立稀疏正则化模型;采用梯度下降算法对稀疏正则化模型进行求解,得到重构的页岩内部的微观图像。本发明能够对页岩内部进行微观成像,特别是对页岩内部的微米孔隙进行微观成像,得到精准的页岩内部微观结构图像,缓解相关技术中通过滤波反投影方法观测页岩内部微观结构,观测得到的图像具有噪声和重构伪影的问题。
基本信息
专利类型 发明
申请(专利)号 CN201610178448.1 申请日 2016-03-25
授权公布号 CN105631912B 授权公告日 2017-04-26
申请人 中国科学院地质与地球物理研究所 
地址 北京市朝阳区北土城西路19号
发明人 王彦飞 邹安祺 王建强 汪丽华 金婵 姜政 
分类号 G06T11/00(2006.01)  主分类号 G06T11/00(2006.01)
国省代码 北京 页数 22
代理机构 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 王术兰 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2017.04.26 授权 授权
2016.06.29 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 11/00申请日:20160325
2016.06.01 公开 公开
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