全面测量显示器的方法

摘要:
本发明涉及一种全面测量显示器的方法,其包含:一全面测量手段,对显示器的每个像素进行全阶段的反应时间的测量;一规格制作手段,将测量到的反应时间中的极限值制作成一特性信息;及一结合手段,该结合手段将该特性信息结合于显示器上,作为产品规格信息。藉由上述步骤所完成的显示器,其上将记载有最快反应时间的特性信息,使用者可快速地比较相同性质的产品,另一方面这样的方法可广泛应用于当今及未来所开发出的显示器,使整体使用上不会受到限制。
基本信息
专利类型 发明
申请(专利)号 CN201510466139.X 申请日 2015-08-03
授权公布号 CN106710493A 授权公告日 2017-05-24
申请人 冠捷投资有限公司 
地址 中国香港九龙观塘108号伟业街丝宝国际大厦12楼1208-16室
发明人 张家豪 连丰国 吴忠翰 郑惟仁 周义儒 李易达 李依珊 李亮贤 庆沛先 
分类号 G09G3/00(2006.01)  主分类号 G09G3/00(2006.01)
国省代码 中国香港 页数 6
代理机构 北京汉德知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 刘子文 陈曦 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2017.05.24 公开 公开
2020.05.01 发明专利申请公布后的视为撤回 发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G09G3/00 申请公布日:20170524
2017.06.16 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G09G 3/00申请日:20150803
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