集成电路全速电流测试方法

摘要:
本发明涉及集成电路测试方法,其步骤包括:第一步,确定测试频率,第二步确定测试波形模式,第三步,确定可测试性测度及其阈值,第四步,测试波形生成,第五步,运行测试。本发明也可以检测一些用逻辑测试方法不可检测的故障,即所谓的冗余故障。测试效率高,适应于大批量集成电路芯片生产线的需要;不需要特别高指标的昂贵的测试仪;故障覆盖率高,适应于国防、航空航天等高可靠芯片的需求。本发明提供了对于高达几个GHz的高频数字CMOS集成电路,直接用其工作频率进行全速电流测试的方法,而测试周期可以灵活地根据测试仪的测试速度而定,可以慢到毫秒级。
基本信息
专利类型 发明
申请(专利)号 CN03125125.0 申请日 2003-05-21
授权公布号 CN1239915C 授权公告日 2006-02-01
申请人 中国科学院计算技术研究所 
地址 北京市中关村科学院南路6号
发明人 闵应骅 邝继顺 牛小燕 
分类号 G01R31/28 H01L21/66  主分类号 G01R31/28
国省代码 北京 页数 11
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司
代理人 周国城 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2003.12.31 实质审查的生效 实质审查的生效
2021.04.30 专利权的终止 专利权的终止
2006.02.01 授权 授权
2003.10.22 公开 公开
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