一种快速表面质量测量装置

申请人:
摘要:
本实用新型公开了一种快速表面质量测量装置。包含两套共光路的干涉仪,其中一套补偿噪声用参考干涉仪包括扩束器(19),激光器(21),探测器(6),伺服控制电路(8)和补偿压电陶瓷(9),是专门用于检测环境中的振动、空气扰动等噪声,通过负反馈消除这些背景噪声干扰的影响。另一套测量用主干涉仪包括数据采集卡(1),计算机(2),图像采集卡(3),三个分光镜(4、14、15),相机(5),两个物镜(7、13),参考反射镜(10),成像透镜(11),准直镜(16),可调谐滤光器(17)、白光光源(18)和滤光器驱动单元(20),采用声光滤光器控制入射到干涉仪的光波长,利用基于GPGPU的大规模并行运算对产生的干涉信号进行处理,能够迅速地获得被测表面的三维形貌。本实用新型能实时测量,且测量过程中无需机械光程扫描,可以达到很快的测量速度,平均1-2秒就能更新一次,经过优化后可望更快;加上主动光路补偿技术,减少环境噪声对测量带来的影响;达到亚纳米级的测量精度;造价较为低廉,省去了通常昂贵的高精度平移台,它可用于干扰较多的加工车间里。
基本信息
专利类型 实用型
申请(专利)号 CN200920200065.5 申请日 2009-11-16
授权公布号 CN201569419U 授权公告日 2010-09-01
申请人 浙江大学 
地址 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
发明人 杨将新 曹衍龙 汪凯巍 金鹭 汪琛琛 
分类号 G01B11/30(2006.01) G01B11/24(2006.01) G01B9/02(2006.01)  主分类号 G01B11/30(2006.01)
国省代码 浙江 页数 7
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司
代理人 浙江大学 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2013.01.16 专利权的终止 未缴年费专利权终止IPC(主分类):G01B 11/30申请日:20091116授权公告日:20100901终止日期:20111116
2010.09.01 授权 授权
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