基于扫频激光干涉的圆轨迹运动误差快速测量系统

申请人:
摘要:
基于扫频激光干涉的圆轨迹运动误差快速测量系统,包括扫频激光器、靶镜和检测机构,总分光镜;检测机构包括X向检测机构和Y向检测机构;检测机构均包含子分光镜,反射镜,光电检测器和计数器,以及处理器;第一分光信号朝向靶镜、第二分光信号朝向反射镜;第一分光信号遇到靶镜后反射形成第一反射信号,第二分光信号遇到反射镜后反射形成第二反射信号,第一反射信号和第二反射信号在子分光镜处汇聚产生干涉信号。本实用新型具有测量过程中检测光路被阻断也不会影响测量结果,能测得绝对位移,仪器的标定和修正简单的优点。
基本信息
专利类型 实用型
申请(专利)号 CN201020616883.6 申请日 2010-11-22
授权公布号 CN201940862U 授权公告日 2011-08-24
申请人 浙江大学 
地址 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
发明人 曹衍龙 汪琛琛 汪凯巍 杨将新 金鹭 
分类号 B23Q17/24(2006.01)  主分类号 B23Q17/24(2006.01)
国省代码 浙江 页数 7
代理机构 杭州天正专利事务所有限公司
代理人 浙江大学 
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2013.05.08 避免重复授权放弃专利权 避免重复授权放弃专利权IPC(主分类):B23Q 17/24申请日:20101122授权公告日:20110824放弃生效日:20130508
2011.08.24 授权 授权
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