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芯片载体通用型老化测试框架的研制

芯片载体通用型老化测试框架的研制

作者：

肖雷

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微电子组装

芯片

老化

测试

摘要：

内容分析

关键词云

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文献信息

篇名	芯片载体通用型老化测试框架的研制
来源期刊	电子工艺简讯	学科	工学
关键词	微电子组装芯片老化测试
年，卷（期）	1990,（12）	所属期刊栏目
研究方向		页码范围	11-12
页数	2页	分类号	TN42
字数		语种
DOI

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