作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
推荐文章
基于VXI总线通用型集成运放测试系统设计
虚拟仪器
VXI测试系统
运放参数
通用型探空仪基测箱
探空仪
传感器
气温
高空探测
基值测定
通用型彩色LCD显示模块
彩色液晶显示模块
单片机
SPI总线
可编程逻辑器件
通用型大气数据计算机自动测试系统的研制
大气数据计算机(ADC)
自动测试系统(ATS)
面向对象(OO)
PCI总线
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 芯片载体通用型老化测试框架
来源期刊 电子工程信息 学科 工学
关键词 芯片 微电路 老化测试 框架
年,卷(期) 1991,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 28-29
页数 2页 分类号 TN406
字数 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1991(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
芯片
微电路
老化测试
框架
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工程信息
双月刊
南京1313信箱110分箱
出版文献量(篇)
2210
总下载数(次)
53
总被引数(次)
0
论文1v1指导