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氧离子对在孔中填充SiO2的影响
氧离子对在孔中填充SiO2的影响
作者:
特兵
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氧离子对
孔填充
二氧化硅
薄膜
电介质沉积
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氧离子对在孔中填充SiO2的影响
来源期刊
等离子体应用技术快报
学科
工学
关键词
氧离子对
孔填充
二氧化硅
薄膜
电介质沉积
年,卷(期)
1994,(7)
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研究方向
页码范围
19-20
页数
2页
分类号
TN304.12
字数
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孔填充
二氧化硅
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等离子体应用技术快报
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核工业西南物理研究院
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月刊
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CN:
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864
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