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以截尾子样估计威布尔故障率函数的子样容量
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文献信息
| 篇名 | 以截尾子样估计威布尔故障率函数的子样容量 | ||
| 来源期刊 | 杭州电子工业学院译丛 | 学科 | 数学 |
| 关键词 | 故障率函数 寿命试验 韦伯分布 子样容量 | ||
| 年，卷（期） | hzdzgyxyyc_1994,（2） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 67-72 | |
| 页数 | 6页 | 分类号 | O213.2 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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1994(0)
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研究主题发展历程
节点文献
故障率函数
寿命试验
韦伯分布
子样容量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
杭州电子工业学院译丛
主办单位：
杭州电子工业学院
出版周期：
季刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
杭州市文一街65号
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
104
总下载数（次）
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