用8051开发装置仿真调试80C51系统

• 作者: 张认成
• 来源期刊: 矿业科学技术
• 学科: 工学
• 关键词: 仿真 微机 电源
• 年，卷（期）: 1994,（3）
• 页码范围: 60-63
• 页数: 4页
• 分类号: TP368.1

摘要

本文对８０Ｃ５１单片机的掉电和闲置方式启动程序进行死循环和虚假标志处理后，使低功耗的８０Ｃ５１系统可以直接在８０５１开发装置上仿真调试，而不必重新购置８０Ｃ５１的开发装置。这种技术在实际应用中取得了很好的效果。