液晶材料参娄及盒厚测试方法的研究

• 作者: 史若桦 黄锡珉
• 来源期刊: 液晶通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示器 液晶盒 厚度 液晶材料 参数
• 年，卷（期）: 1995,（3）
• 页码范围: 185-217
• 页数: 33页
• 分类号: TN873.93

摘要

本文利用表面等离子体技术和导模技术测定了银膜、SiO膜的介电常数和厚度，从而确定了液晶的介电常数和液晶盒厚度。首次将集成光学的漏模技术（m线方法）应用到测量液晶参数上，测定了液晶的的折射率和液晶盒厚。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄锡珉	中国科学院长春物理研究所	39	413	11.0	19.0
2	史若桦	中国科学院长春物理研究所	3	0	0.0	0.0